產(chǎn)品介紹-立式干涉儀--北京全歐光學(xué)
μPhase® 面型測試系統(tǒng)
用于測量表面和波前變形的干涉儀
 μPhase®干涉儀可以對由玻璃、塑料、金屬、陶瓷或類似材料制成的反射和透射組件的表面和波前變形進(jìn)行快速、高精度測量。客觀可靠的結(jié)果滿足高質(zhì)量管理要求。非接觸式測量過程有助于防止損壞樣品。
對平面、球面、圓柱、復(fù)曲面和非球面部件的整個表面和波前變形進(jìn)行高精度測量。
μPhase®可普遍用于反射率從0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金屬和陶瓷等材料制成。
客觀的數(shù)字化測量可避免操作員的影響。同樣，堅固的防塵外殼確保了高可靠性。
 μPhase®干涉儀是非常緊湊、小巧、輕便的數(shù)字化設(shè)備，可以在很多工作環(huán)境中使用。在μShape軟件的支持下，可以進(jìn)行廣泛的測量分析。
 μPhase®傳感器是TRIOPTICS干涉測量的基礎(chǔ)。該傳感器是模塊化的，可以配置各種測量直徑，并代表特定的測量任務(wù)。此外，可以以低成本提供定制的解決方案。
μPhase® VERTICAL 3 多功能
用于制造、車間和實驗室的高度靈活且設(shè)備齊全的干涉儀系統(tǒng)。
電動縱向Z軸
適用于所有類型的反射和透射測量的獨特設(shè)計
集成自動半徑測量
緊湊型設(shè)計，垂直測量結(jié)構(gòu)，適用于狹小空間
集成傾斜和XY平移調(diào)整臺，實現(xiàn)樣品理想校準(zhǔn)
根據(jù)測量要求進(jìn)行模塊化優(yōu)化設(shè)計
可選：使用托盤支架和電動XY托架，一次通過多個樣品的自動表面和半徑測量

 用于制造、車間和實驗室的高度靈活且設(shè)備齊全的干涉儀系統(tǒng)。
電動縱向Z軸
適用于所有類型的反射和透射測量的獨特設(shè)計
集成自動半徑測量
緊湊型設(shè)計，垂直測量結(jié)構(gòu)，適用于狹小空間
集成傾斜和XY平移調(diào)整臺，實現(xiàn)樣品理想校準(zhǔn)
根據(jù)測量要求進(jìn)行模塊化優(yōu)化設(shè)計
可選：使用托盤支架和電動XY托架，一次通過多個樣品的自動表面和半徑測量
μPhase® VERTICAL PRO 自動化
借助其托盤，μPhase® VERTICAL PRO可以自動測量20到30個樣品。
測量球面、復(fù)曲面和非球面透鏡以及由玻璃、塑料或金屬制成的樣品
樣品半徑可達(dá)50mm
可自由配置和快速更換的樣品架

 借助其托盤，μPhase® VERTICAL PRO可以自動測量20到30個樣品。
測量球面、復(fù)曲面和非球面透鏡以及由玻璃、塑料或金屬制成的樣品
樣品半徑可達(dá)50mm

可自由配置和快速更換的樣品架

 

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