WaveSensor & WaveMaster® 波前測(cè)試系統(tǒng)

夏克-哈特曼波前傳感器

  為了能夠驗(yàn)證復(fù)雜的光學(xué)設(shè)計(jì)在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個(gè)有效的檢測(cè)技術(shù)。波前測(cè)量特別適合此目的，因?yàn)樗梢栽诳臻g分辨的基礎(chǔ)上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場(chǎng)角上和整個(gè)樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測(cè)試相比，波前測(cè)試是用點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行評(píng)價(jià)，可覆蓋整個(gè)樣品口徑。











產(chǎn)品特點(diǎn)
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍高達(dá)2000λ，可在鏡頭設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)高度靈敏的測(cè)量。



02 ▏重復(fù)精度高
除了高達(dá)λ/20 (RMS)的測(cè)量精度外，由于緊湊、堅(jiān)固和抗振的設(shè)計(jì)，還實(shí)現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復(fù)性。



03 ▏實(shí)時(shí)分析
實(shí)時(shí)將測(cè)量波前數(shù)據(jù)的結(jié)果與樣品鏡片或設(shè)計(jì)值的結(jié)果進(jìn)行比較和評(píng)估。

















產(chǎn)品概述


WaveMaster® IOL 2 人工晶體波前測(cè)量?jī)x

WaveMaster® IOL 2系列人工晶體波前測(cè)量?jī)x可實(shí)現(xiàn)人工晶狀體的屈光度測(cè)試。

適用于常見(jiàn)人工晶狀體類型的通用測(cè)量系統(tǒng)：?jiǎn)谓裹c(diǎn)、柱面、球面和非球面

根據(jù)ISO 11979在空氣中或可選可加熱的模型眼中測(cè)量疏水性和親水性鏡片

像差、MTF、EFL和PSF的全自動(dòng)測(cè)量和用戶自定義測(cè)量



 WaveMaster® IOL 2系列人工晶體波前測(cè)量?jī)x基于波前測(cè)量，使用TRIOPTICS GmbH（德國(guó)全歐光學(xué)）成熟的夏克-哈特曼波前傳感器WaveSensor®系列測(cè)量折射型人工晶狀體單焦點(diǎn)和柱面、球面或非球面等人工晶狀體的關(guān)鍵參數(shù)。因此，它可用于研發(fā)和生產(chǎn)。通過(guò)分析在快速測(cè)量過(guò)程中獲得的波前數(shù)據(jù)，計(jì)算出屈光度、像差和光學(xué)傳遞函數(shù)等測(cè)量參數(shù)。此外，還支持柱面鏡片的全自動(dòng)測(cè)量（兩個(gè)子午線的MTF、標(biāo)記點(diǎn)識(shí)別）?？罩谢蛩袦y(cè)量的都安排在一個(gè)直觀可用的軟件界面中，引導(dǎo)用戶完成整個(gè)過(guò)程。

波前測(cè)量完成的屈光度分布圖

人工晶狀體評(píng)估過(guò)程中的**性，因?yàn)闇y(cè)量精度是ISO要求的公差的三倍

通過(guò)Zernike分析對(duì)研發(fā)中的人工晶狀體像差進(jìn)行個(gè)體分析

通過(guò)人工晶狀體兩個(gè)主要部分的自動(dòng)MTF測(cè)量呈現(xiàn)柱面人工晶狀體的成像質(zhì)量

全自動(dòng)測(cè)量Toric人工晶狀體標(biāo)記點(diǎn)和標(biāo)記軸的偏差

實(shí)時(shí)圖像允許對(duì)人工晶狀體的制造質(zhì)量進(jìn)行視覺(jué)分析

根據(jù)所需的分辨率和動(dòng)態(tài)，可針對(duì)特定樣品調(diào)整測(cè)量直徑

 

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