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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
詳情介紹：
高精度非接觸式光學(xué)測厚儀 LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀
LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀利用光的獨特性質(zhì)測量厚度，其測量原理為：測量激光照射到被測試材料上，經(jīng)過每個表面反射后被收集，然后在...
LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀利用光的獨特性質(zhì)測量厚度，其測量原理為：測量激光照射到被測試材料上，經(jīng)過每個表面反射后被收集，然后在光學(xué)干涉儀上進行分析，光學(xué)干涉儀是一種高精度的“光學(xué)尺”，它測量每個反射信號的長度差，以確定每一層的厚度和總厚度。
產(chǎn)品特點
*非接觸式測量，不會造成元件表面損壞或變形
*用于高精度定位測量位置的可見光束
*可同時測量31層壁厚
*精度可達±0.1微米
*測量重復(fù)性達±0.02微米
*基于內(nèi)部固有長度標(biāo)準(zhǔn)，實時顯示測量數(shù)據(jù)
*測量結(jié)果可追溯至NIST標(biāo)準(zhǔn)
*測量物理厚度可達12微米（折射率1.5時）
*集成裝置，操作簡便，更無需專用PC
座機：0755-84670052 0755-83317701
手機/微信：13682357549 13246646513
QQ：672776553 564600083 1903656788
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