用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進行***的評價

Trioptics μPhase®系列高精度干涉儀 用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進行***的評價。μPhase®系列干涉儀得益于該設(shè)備緊湊與模塊化的設(shè)計理念，使它們得到靈活、高效的使用。μPhase®系列干涉儀的各個組成部件相對獨立，相互兼容，可靈活組合成有針對性應(yīng)用的強大干涉計量系統(tǒng)。

 

產(chǎn)品特點

*模塊化設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊

*測量適用性強，保證可以在各種工作與生產(chǎn)環(huán)境中進行檢測

*可測量反射率0.3%-100%的光學(xué)表面，覆蓋范圍廣

*數(shù)字化測量，避免人為損壞

***的結(jié)構(gòu)，**的軟件，為生產(chǎn)及實驗室提供支持

*泰曼格林型/菲索型組合或用于校準樣品的**個相機，為μPhase®系列干涉儀的使用提供了便利

 

產(chǎn)品型號

● μPhase® 500

● μPhase® 1000

● μPhase® SPHERO UP

● μPhase® PLANO UP

● μPhase® Plano Down

● μPhase® Vertical

● μPhase® UNIVERSAL 100

典型應(yīng)用

μPhase® SPHERO UP， μPhase® PLANO UP，μPhase® Plano Down

 

*用于測量不同的平面和球面光學(xué)零件

*操作直觀而簡單，適合非專業(yè)人士操作

*測量范圍：μPhase® Plano Down：平面φ≤2 mm 至 150 mm  

                   μPhase® PLANO UP：平面φ≤2 mm 至 100 mm

                   μPhase® SPHERO UP：球面，曲率半徑（凸面）2mm—225mm，直徑*大55mm；球面，曲率半徑（凹面）-3mm—-570mm

*結(jié)構(gòu)緊湊，占用空間下，可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合

 

μPhase® Vertical

 

*適用于廠房、車間、實驗室的標準干涉儀檢測系統(tǒng)

*立式檢測，結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小

*標配一個沿Z軸方向電動平移的平臺，可選配**個平臺

*傾斜及X/Y平移精調(diào)

*可完成各種類型的反射與透射檢測

*可采用透射法檢測雙膠合透鏡

*凹面與凸面球面鏡的檢測范圍：標準曲率半徑范圍：1mm-225mm，直徑*大55mm（采用50mm物鏡μLens PLANO 50）

*集成半徑測量單元

*可選CGH，用于測量非球面、柱面、輪胎面等

*曲率半徑實現(xiàn)一鍵式自動測量

*Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機，電動升降

 

μPhase® UNIVERSAL 100

 

*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統(tǒng)

*球面測量范圍：凹面曲率半徑*大-3000mm（提供相應(yīng)導(dǎo)軌）

*平面測量范圍：*大98mm

*半徑測量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺

*適合長焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測

*與市場上通用的4英寸標準球面物鏡相兼容

*可選旋轉(zhuǎn)對稱非球面的檢測配件，檢測范圍10mm-80mm，CGH檢測輪胎面、柱面等

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